脈沖式線圈測試儀 數字式匝間儀 型(xing)號：YG212B-05

工作原理

YG212系(xi)列脈沖(chong)式線圈(quan)測試儀以MCU中央信(xin)(xin)息(xi)處(chu)理(li)(li)系(xi)統為核心，由它控制(zhi)脈沖(chong)發(fa)生(sheng)器對線圈(quan)施加一次短(duan)時間(jian)的(de)(de)脈沖(chong)，線圈(quan)在脈沖(chong)作用下產(chan)生(sheng)自由衰減振蕩(dang),其瞬態(tai)波(bo)形的(de)(de)模(mo)擬信(xin)(xin)號經高(gao)速A/D轉換器轉換成數(shu)字(zi)信(xin)(xin)號后反饋至MCU信(xin)(xin)息(xi)處(chu)理(li)(li)系(xi)統進行(xing)時間(jian)、電(dian)暈量(liang)、面積(ji)、相位(wei)等參數(shu)的(de)(de)運算，處(chu)理(li)(li)結果保(bao)存在MCU信(xin)(xin)息(xi)處(chu)理(li)(li)系(xi)統的(de)(de)電(dian)子(zi)存儲器中，并用直觀易(yi)懂的(de)(de)文字(zi)、數(shu)據及圖形顯示在240×320點陣(zhen)液(ye)晶模(mo)塊(kuai)LCM上(shang)，從而保(bao)證了波(bo)形重現的(de)(de)真實性。并且(qie)根據用戶(hu)設(she)定的(de)(de)條件,對合格或不(bu)合格者進行(xing)報警處(chu)理(li)(li)。

脈沖(chong)式(shi)線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)測(ce)(ce)試儀（即數字式(shi)匝(za)間(jian)儀）可(ke)的(de)(de)(de)、非破壞性(xing)的(de)(de)(de)對有線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)繞組(zu)的(de)(de)(de)部件進行(xing)電氣試驗。其(qi)原理(li)是對標準線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)繞組(zu)和被測(ce)(ce)試繞組(zu)施加(jia)相同的(de)(de)(de)脈沖(chong)電壓(ya)，比(bi)較兩者(zhe)的(de)(de)(de)瞬(shun)態波形，以測(ce)(ce)試被測(ce)(ce)線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)的(de)(de)(de)品(pin)質。瞬(shun)態波形也就是線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)內發生的(de)(de)(de)衰減振蕩的(de)(de)(de)波形，他可(ke)同時判斷該(gai)繞組(zu)的(de)(de)(de)電感、品(pin)質因素、繞組(zu)的(de)(de)(de)圈(quan)(quan)(quan)(quan)數差及匝(za)間(jian)短路情況(kuang)，在有鐵芯的(de)(de)(de)情況(kuang)下(xia)，還(huan)可(ke)以判斷其(qi)材質的(de)(de)(de)差別等(deng)。在施加(jia)脈沖(chong)的(de)(de)(de)情況(kuang)下(xia)，電暈放(fang)電的(de)(de)(de)發生還(huan)可(ke)以對緣不良(liang)進行(xing)判斷。總之，標志線(xian)(xian)圈(quan)(quan)(quan)(quan)品(pin)質的(de)(de)(de)各個(ge)要素，可(ke)以在短時間(jian)內檢查完(wan)成。

本廠的(de)YG212系列脈沖式線圈(quan)測試(shi)儀(yi)，采用微型計算機技術把波形的(de)各種參數量化處理，再用直觀的(de)波形進行顯示和判(pan)斷，操作簡單，判(pan)斷準確，自動(dong)化程度(du)高。該儀(yi)器體積小，重量輕，便于攜(xie)帶。